Open Access
| Numéro |
Collection SFO - Vol. 8
Volume 8, 2003
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|---|---|---|
| Page(s) | 195 - 202 | |
| Section | Troisième partie : Caractérisations des couches minces et interfaces (Cours) | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/bib-sfo:2002802 | |
Collection SFO 8 (2003) 195-202
DOI: 10.1051/bib-sfo:2002802
GPS, Universités Paris 6 et Paris 7, UMR 7588 du CNRS, Tour 23, 2 place Jussieu, F-75251 PARIS CEDEX 05, FRANCE
abel@gps.jussieu.fr
© EDP Sciences 2003
DOI: 10.1051/bib-sfo:2002802
Phénomènes de canalisation. Applications à la caractérisation des échantillons cristallins
François AbelGPS, Universités Paris 6 et Paris 7, UMR 7588 du CNRS, Tour 23, 2 place Jussieu, F-75251 PARIS CEDEX 05, FRANCE
abel@gps.jussieu.fr
© EDP Sciences 2003
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