Open Access
| Numéro |
Collection SFO - Vol. 8
Volume 8, 2003
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|---|---|---|
| Page(s) | 227 - 251 | |
| Section | Troisième partie : Caractérisations des couches minces et interfaces (Cours) | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/bib-sfo:20028031 | |
Collection SFO 8 (2003) 227-251
DOI: 10.1051/bib-sfo:20028031
Institut FRESNEL UMR-CNRS 6133 Sciences et Technologies de l'Optique, l'Électromagnétisme et l'Image E.N.S.P.M., F-13397 MARSEILLE, FRANCE
claude.amra@fresnel.fr
© EDP Sciences 2003
DOI: 10.1051/bib-sfo:20028031
Thermique photo-induite, déflexion photothermique et endommagement laser dans les composants optiques interférentiels. Mesures d'absorption optique et tenue au flux
Claude AmraInstitut FRESNEL UMR-CNRS 6133 Sciences et Technologies de l'Optique, l'Électromagnétisme et l'Image E.N.S.P.M., F-13397 MARSEILLE, FRANCE
claude.amra@fresnel.fr
© EDP Sciences 2003
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